Analog Devices Circuito De Prueba Y Retención, AD783JRZ, 0.375μs, 1-circuitos, Fuente De Alimentación Doble, SOIC, 8-Pines
About The 45mm, Ancho: 4.375µs, Tensión de Alimentación Dual Típica: ±5V, Tipo de Montaje: Montaje superficial, Dimensiones: 5 x 4
Analog Devices Circuito de prueba y retención, 0.375μs, 1-circuitos, Fuente de alimentación Doble, SOIC, 8-Pines, Tiempo de Adquisición: 0.375µs, Tensión de Alimentación Dual Típica: ±5V, Tipo de Montaje: Montaje superficial, Dimensiones: 5 x 4.01 x 2.45mm, Ancho: 4.01mm, Temperatura Máxima de Funcionamiento: +70 °C, MPN: AD783JRZ
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Analog Devices Circuito De Prueba Y Retención, AD783JRZ, 0.375μs, 1-circuitos, Fuente De Alimentación Doble, SOIC, 8-Pines
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Specifications of Analog Devices Circuito De Prueba Y Retención, AD783JRZ, 0.375μs, 1-circuitos, Fuente De Alimentación Doble, SOIC, 8-Pines | |
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